ED400型渦流測厚儀

簡要描述：ED400型渦流測厚儀適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度，測量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。

產(chǎn)品分類

Product classification

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詳細(xì)介紹

ED400型渦流測厚儀適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度，測量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。

ED400型渦流測厚儀以良好的質(zhì)量，及時(shí)、優(yōu)質(zhì)、低費(fèi)用的售后服務(wù)得到用戶的廣泛贊譽(yù)和認(rèn)可，天星測厚儀在鋁型材行業(yè)的*超過90%，成為該行業(yè)的產(chǎn)品。

特點(diǎn)

	量程寬 ED400型渦流測厚儀量程達(dá)到 0～500 μm。
精度高測量精度達(dá)到2%。
	分辨率高分辨率達(dá)到0.1μm。
校正簡便只校正“0”和“50 μm”兩點(diǎn)，即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計(jì)精度。
	基體導(dǎo)電率影響小基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時(shí)，測量誤差不大于1～2 μm。
可靠性提高采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件，電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化，儀器可靠性提高。
	穩(wěn)定性提高采用*的溫度補(bǔ)償技術(shù)，測量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場長期使用。
探頭芯壽命長采用高強(qiáng)度磁芯材料，微調(diào)了探頭設(shè)計(jì)，探頭芯壽命可大大延長。

技術(shù)參數(shù).jpg

產(chǎn)品咨詢

	量程寬 ED400型渦流測厚儀量程達(dá)到 0～500 μm。
精度高測量精度達(dá)到2%。
	分辨率高分辨率達(dá)到0.1μm。
校正簡便只校正“0”和“50 μm”兩點(diǎn)，即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計(jì)精度。
	基體導(dǎo)電率影響小基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時(shí)，測量誤差不大于1～2 μm。
可靠性提高采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件，電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化，儀器可靠性提高。
	穩(wěn)定性提高采用*的溫度補(bǔ)償技術(shù)，測量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場長期使用。
探頭芯壽命長采用高強(qiáng)度磁芯材料，微調(diào)了探頭設(shè)計(jì)，探頭芯壽命可大大延長。

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